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Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDX

Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
Aufnahme eines Risses in der Zementmatrix eines Betonprobekörpers

Verfahrensweise des REM

  • Abbildung von Oberflächen zu deren Strukturanalyse
  • Ein sehr fein gebündelter Elektonenstrahl wird zeilenweise über die Objektoberfläche geführt. Die dabei durch Primärelektonen im Objekt erzeugten Wechselwirkungprodukte werden erfasst und zur Bilddarstellung verwendet.
  • Auflösevermögen von nur wenigen Nanometern in sehr großer Tiefenschärfe

Materialanalyse im REM/EDX-Analyse:

  • Die bei der Wechselwirkung erzeugte Röntgenstrahlung ist elementspezifisch und kann zu deren Analyse herangezogen werden.